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EMMC-153-0.5-11.5X13.0SMT无盖分析测试冶具
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深圳市誉恺电子有限公司

AS5132测试版

= 原装+现货+订货/统货+好口碑+品质承诺

带有此标记的物料：

1. 供应商为订货或统货模式，较高市场知度，口碑好，缴纳2万保证金，正能量供应商管理部门审核审查。

2. 供应商承诺此物料是“现货” ，如果无货或数量严重不足，投诉成立奖励您500元。

3. 供应商承诺此物料是“原装正品”。如品质不符，投诉核实采购商可获得最高2万元赔付。

正品定义：

物料必须为原厂良品且外观无任何损伤，必须为原厂原包装方式，必须无重新打卷/摆盘/整脚/改

标/打字等行为，最好有原厂原盒、原厂标签或代理商标签。

无货投诉成立，奖励500元

假货投诉成立，退货+最高赔付2万元

保障交易资金安全，请用担保交易服务

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昨天投诉

AMS

SSOP-20

12+

深圳

吕袋原标假一赔十

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深圳市易佳杰电子科技有限公司

SPXCDALMHX 气体分析仪

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昨天

HONEYWELL

SIP

2023+

深圳

霍尼授权代理商，支持 | 原装进口 | 现货

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深圳市深艾华科技有限公司

FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座芯片测试座适配器

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ENPLAS

FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座芯片测试座适配器

深圳

欢迎咨询 | 原装进口

IC51-807.A110055-001(IC51-0644-807-3无盖)

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YAMAICHI

QFP-64-0.5-12.0X12.0MM(10.0X10.0)无盖

深圳

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深圳市深万亨技术科技有限公司

测试针(套)

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国产

2021

原装正品全新长期可供

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上海杜港电子科技有限公司

PCB测试点

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一周前

插件

20+

上海

二十年专业分销 | 全新原装 | 现货

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原装LOTES 黑色 IC芯片测试座 SPI FLASH 烧录座 SMT贴片SOP8PIN

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LOTES

CONNECTOR

12+PBFREE

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原装现货支持实单

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深圳市倚鸿科技有限公司

BROADCOM 赞助商

ROHS,SMD,芯片测试座,贴片式,SOP16PIN

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N/A

NA/

23+

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全新原装正品

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深圳市深艾华科技有限公司

A31S主控测试治具(有球测试)

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BGA-A31S主控测试治具(有球测试)

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A8+LGA-60冶具-0.4

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A8+LGA-60

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A-BGA-256-1.27-24*24测试

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BGA-256-1.27-24.0X24.0MM-16X16-H2.2-D0.89/0.7-0.6

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A-BGA-841-0.8-24.5*24.5 测试

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BGA-841-0.8-24.5X24.5 测试

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A-BGA-96-0.8-10*14(POGOPIN)测试

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BGA-96-0.8-14.0X10.0- DDR3

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A-BGA-96-0.8-7.5*13(POGOPIN)测试

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BGA-96-0.8-13.0X7.5- DDR3

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A-BGA-96-0.8-7.5*13.5(POGOPIN)测试

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BGA-96-0.8-13.5X7.5- DDR3

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A-CLGA-484-1.27-29*29(不植球) 鋁料+旋扭测试

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CLGA-484-1.27-29.0X29.0MM(不植球) 鋁料+旋扭测试

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A-CLGA-676-1.0-27*27测试旋钮

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CLGA-676-1.0-27.0X27.0-26X26

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A-CQFP-48-0.5-7.8X7.8(9.0X9.0)测试用

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CQFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.8X7.8MM)测试用 QFP

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A-DFN-6-0.5-2.0X2.0测试

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DFN-6-0.5-2.0X2.0测试

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A-FBGA-144-1.0-13*13(POGOPIN) 頻率200M 金屬+旋扭测试

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FBGA-144-1.0-13.0X13.0MM(POGOPIN) 頻率200M 金屬+旋扭测试

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A-LGA-104-1.27-15*15製作方式:POGOPIN测试

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LGA-104-1.27-15.0X15.0MM

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A-LGA-144-1.27-16.15*16.15测试

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LGA-BGA-144-1.27-16.15X16.15-12X12

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A-LGA-601-1.27-40*40测试

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LGA-601-1.27-40.0X40.0MM测试

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A-LGA-708-1.0-25*31测试

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SZJ/AUTMWELL/BLD

LGA-708-1.0-25.0X31.0MM-24X30 LGA-720-1.0-25.0X31.

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A-MSOP-8-0.65-3*3-测试

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MSOP-8-0.65-4.9X3.0X3.0 2M 2A 30V -40-+150度

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A-SON-3-1.3-2.4*3-DIP测试

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SON-3-1.3-2.4X3.0-DIP测试 DFN-3-1.3-3.0X2.4

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A-SOP-4-1.27-4.4*2.7-DIP 测试

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SOP-4-1.27-4.4X2.7-DIP 测试

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A-TSSOP-16-0.65-4.4*5测试

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TSSOP-16-0.65-6.4X4.3X4.9H1.1 2M 50MA 50V -40-+150

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A-TSSOP-16-0.65-6.4*4.3X4.9H1.1-测试

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TSSOP-16-0.65-6.4X4.3X4.9H1.1 2M 2A 30V -40-+150度

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BGA-100-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-88-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-100-1.0-12.0X18.0-8X11-EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-88-1.0-12.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-100-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-88-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-100-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-88-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA107-0.8-TP01NS测试座转DIP48

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BGA-107-0.8-10.5X13.0 TP01NS测试座转DIP48

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BGA-132-0.5U2/3的测试夹具

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BGA-132-0.5 U2/3的测试夹具

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA32转96适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA132转96适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA132一拖二转96适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA132一拖二转96适配器

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BGA-132-1.0-18.0X12.0 旋钮测试

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B&T

BGA-132-1.0-18.0X12.0 旋钮测试

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BGA-136-0.8-8.5X10.0/GDDR5芯片测试座

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BGA-136-0.8-8.5X10.0/GDDR5芯片测试座

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BGA-152-0.5U2/3的测试夹具

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BGA-152-0.5 U2/3的测试夹具

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片SSD转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片SSD转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA152转96适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA152转96适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器

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BGA-165-1.0-17.0X15.0 旋钮测试

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BGA-165-1.0-17.0X15.0

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BGA-169-1.0-14.0X14.0-13X13-H1.84-D0.60/0.5 测试化金属旋钮FOR 1.25G 2A 3.5W

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BGA-169-1.0-14.0X14.0-13X13-H1.84-D0.60/0.5

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座翻盖式

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座翻盖式

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座翻盖式

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座翻盖式

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BGA-170-0.8-12.0X14.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-170-0.8-12.0X14.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-170-0.8-12.0X18.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-170-0.8-12.0X18.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP153转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP153转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP162转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座翻盖式

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BGA-209-1.0-24.0X11.0-19X11-H1.7-D0.6/0.5 旋钮测试

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BGA-209-1.0-24.0X11.0-19X11-H1.7-D0.6/0.5 旋钮测试

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BGA-216-0.5-15.0X15.0 LPDDR216芯片测试座

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BGA-216-0.5-15.0X15.0 LPDDR216芯片测试座

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BGA-220-0.5-12.0X12.0 LPDDR240芯片测试座

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BGA-220-0.5-12.0X12.0 LPDDR240芯片测试座

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221翻盖芯片测试座

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221/EMCP

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221芯片测试座

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221/EMCP

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BGA-256-0.5-18.0X18.0U2/3的测试夹具

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BGA-256-0.5-18.0X18.0U2/3的测试夹具

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BGA-256-0.8U2/3的测试夹具

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BGA-256-0.8 U2/3的测试夹具

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BGA-256-1.0U2/3的测试夹具

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BGA-256-1.0 U2/3的测试夹具

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BGA-272U2/3的测试夹具

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BGA-272 U2/3的测试夹具

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式

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BGA-316U2/3的测试夹具

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BGA-316 U2/3的测试夹具

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BGA-50(56)-1.27-11.25X9 旋钮测试

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BGA-50(56)-1.27-11.25X9 旋钮测试

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-64-1.0-9.0X9.0-6X6 测试金属旋钮

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BGA-64-1.0-9.0X9.0-6X6 测试金属旋钮

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BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试

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BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试

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BGA-78-0.8-7.0X9.0 DDR3X8一拖八测试冶具

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BGA-78-0.8-7.0X9.0 DDR3X8一拖八测试冶具

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0/SSD闪存测试座一拖四 BGA100/88转96适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0/SSD闪存测试座一拖四 BGA100/88转96适配器

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BGA-96-0.8-10.5X12 DDR3X16一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-10.5X12 DDR3X16一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.0/DDR4X8一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.0/DDR4X8一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.0/DDR4X8一拖四测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.0/DDR4X8一拖四测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖八测试冶具(台湾订制版)

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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖八测试冶具(台湾订制版)

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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖四测试冶具

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BGA-96-0.8-11.0X9.5/DDR4X8一拖四测试冶具

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BGA-96-0.8-8.0X10.0 GDDR3一拖四显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.0X10.0 GDDR3一拖四显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.5X10.0 GDDR5一拖二显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.5X10.0 GDDR5一拖二显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-9.0X10.0 DDR3X16芯片测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.0 DDR3X16芯片测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖八显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖八显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖四显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖四显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-9.0X8.0/DDR SMI2246EN/2256K测试夹具

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BGA-96-0.8-9.0X8.0/DDR SMI2246EN/2256K测试夹具

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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CH341-SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN弯针夹子

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CH341-SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN弯针夹子

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CISCO/华为SD5802芯片测试治

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BGA-2916-CISCO 2HA3-0001/华为SD5802芯片测试治

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CQFN-16-1.27-9.0X9.0 旋钮翻盖测试

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CQFN-16-1.27-9.0X9.0H1.80-POGOPIN

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DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DDR3X16一拖八内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DFN-10-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-10-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN-10-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-10-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN2X2-8L(0.5)转DIP8老化测试座带板/CNV-DFN8-DIP

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SZJ/HI-REL/HR/QSYQ

DFN-8-0.5-2.0X2.0-4;0

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0翻盖单层板二边通用测试板

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0

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EMCP-162-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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BGA-162-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0

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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP-186-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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BGA-186-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座翻盖式

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座翻盖式

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式

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EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-221-0.5-11.5X13.0H1.4 EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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EMCP221转20PIN测试座(下压)

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BGA-221-0.5-11.5X13.0H1.4 EMCP221转20PIN测试座(下压)

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EMCP35/162-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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EBGA-35/162-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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EMCP35/186-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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EBGA-35/186-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP分析PCB板

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EMCP分析PCB板

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EMCP探针翻盖USB带盒子测试工具

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EMCP-186-0.5 EMCP-169-0.5

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EMMC/EMCP测试座限位框

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EMMC/EMCP测试座限位框

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EMMC-153/169-0.5翻盖普通弹片老化测试座

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BGA-153-0.5 BGA-169-0.5翻盖普通弹片老化测试座

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EMMC-153-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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BGA-153-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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EMMC-153-0.5-11.5X13.0SMT无盖分析测试冶具

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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0螺丝固定/PG/无盖

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EMMC153-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座

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EMMC153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC-153-0.5-12.0X16.0SMT无盖分析测试冶具

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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/无盖

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EMMC153-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC-153-0.5-12.0X18.0SMT无盖分析测试冶具

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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/无盖

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EMMC153-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC-153-0.5-14.0X18.0SMT无盖分析测试冶具

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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-14.0X18.0螺丝固定/PG/无盖

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EMMC153-0.5-14.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-14.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-14.0X18.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0翻盖探针转SD测试座

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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0翻盖探针转SD测试座

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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-11.5X13.0 FBGA-169-0.5-11.5X13.0下压转SD

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EMMC153-169-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X16.0 FBGA-169-0.5-12.0X16.0下压转SDD

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EMMC153-169-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X18.0 FBGA-169-0.5-12.0X18.0下压转SD

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EMMC153-169-0.5-14.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-14.0X18.0 FBGA-169-0.5-14.0X18.0下压转SD

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EMMC153翻盖弹片带盒子测试工具带盒子

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BGA-153-0.5

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EMMC-169-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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BGA-169-0.5-11.5X13.0+功能分析转接板

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EMMC169-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169翻盖弹片带盒子测试工具带盒子

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BGA-169-0.5

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EMMC30/153-0.5-11.5X13.0探针转SD接口测试座

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BGA-30/153-0.5-11.5X13.0探针转SD接口测试座

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EMMC30/153-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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BGA-30/153-0.5-11.5X13.0探针转USB接口测试座

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EMMC30/162-0.5-12.0X16.0探针转SD接口测试座

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BGA-30/162-0.5-12.0X16.0探针转SD接口测试座

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EMMC30/186-0.5-12.0X16.0探针转SD接口测试座

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BGA-30/186-0.5-12.0X16.0探针转SD接口测试座

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EMMC-FBGA-162-0.5-EMMC分析治具焊接板

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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-169-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0测试座转DIP48转SD测座

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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0测试座转DIP48转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0测试座转DIP48转SD测座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0测试座转DIP48转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0测试座转DIP48转SD测座

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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0测试座转DIP48转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0EMMC带盒子测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0测试座转DIP48转SD测座

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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0测试座转DIP48转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-EMMC分析治具焊接板

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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EMMC-UBGA-153-0.5翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-169-0.5-EMMC分析治具焊接板

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EMMC-UBGA-169-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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EMMC-UBGA--169-0.5翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-169-0.5-任意尺寸翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-186-0.5-EMMC分析治具焊接板

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EMMC-UBGA-186-0.5-任意尺寸通用PCB测试用空板

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FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型测试进口 POGOPIN(爪子型)

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FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型

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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座芯片测试座适配器

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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座芯片测试座适配器

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GDDR5-170FT测试治具(T/C)

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BGA-170-0.8-12.0XMAX27.0-14X17 DDR3 BGA-238-0.8-12

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GDDR5通用测试座 -铝合翻盖FR4

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BGA-170-0.8-12.0XMAX27.0-14X17 DDR3 BGA-238-0.8-12

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座硬盘翻盖探针修改序列号测试座

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座硬盘翻盖探针

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LC88E1145-LGA-364-1.0-21.0*21.0-20*20-H1.44-D0.5 要求1.25G,功率4.5瓦测试用金属旋钮6只

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LC88E1145-LGA-364-1.0-21.0*21.0-20*20-H1.44-D0.5

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LGA-133-1.27-15.0X15.0-12X12-H4.32 旋钮测试

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LGA-133-1.27-15.0X15.0-12X12-H4.32 旋钮测试

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LGA-144-1.27-16.0X16.0-12X12-H4.4 测试用、旋盖

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LGA-144-1.27-16.0X16.0-12X12-H4.4 测试用、旋盖

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖探针转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM探针转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM下压弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM下压弹片转48测试座带板

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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LGA60下压弹片转DIP48测试座

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LGA-60下压弹片转DIP48测试座带板

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LGA-77-1.27-18.0X12.0-11X7 旋钮测试

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LGA-77-1.27-18.0X12.0-11X7 旋钮测试

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LH-921-10晶振老化测试座

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10PIN晶振老化测试座黑胶-55-150度棕色-55度-200度机械寿命5K

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LH-921-16晶振老化测试座

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16PIN晶振老化测试座黑胶-55-150度棕色-55度-200度机械寿命5K

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LH-921-4晶振老化测试座

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4PIN晶振老化测试座黑胶-55-150度棕色-55度-200度机械寿命5K

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LH-921-7晶振老化测试座

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7PIN晶振老化测试座黑胶-55-150度棕色-55度-200度机械寿命5K

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LH-921-8晶振老化测试座

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8PIN晶振老化测试座黑胶-55-150度棕色-55度-200度机械寿命5K

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LPDDR2 220芯片测试治具

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LPDDR2 220芯片测试治具 BGA-220-0.65-

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LPHONE/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

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LGA-60-1.0-12.0X17.0LPHONE/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

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LS-SIP-2R401-PBGA-841-1.0-30.0X30.0-29X29-H5.15(MAX)-D0.6/0.5 1A 1G 2W 测试

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LS-SIP-2R401-PBGA-841-1.0-30.0X30.0-29X29-H5.15(MA

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LUC1843A LCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 POGOPIN 寿命1万次以上 2A每根 -65--+150度测试金属旋钮

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LUC1843A LCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 POGOPIN 寿命

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LUC1843A CLCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 金属旋钮POGOPIN 测试用

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LUC1843A CLCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 金属旋钮POGOPIN 测

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MID-TSOP48+FASH平板电脑测试治具

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TSOP-48-0.5-20.0X18.4X12.0MM MOQ5K -55-+175度

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OTS-16(20M)-1.27-01-T测试

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SOP-8-1.27-8.1X5.4H1.9 SOP8*2(20)-1.27-01-T测试

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OTS-16-1.27-03-T测试

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SOP-16-1.27-6.0X3.9 SOP16-1.27-01 PCB

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OV7670-P摄像头芯片测试座带板适配器

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OV7670-P摄像头芯片测试座带板适配器

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POP双层IC测试治具

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POP双层IC测试治具

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Q F N-96-0.35-10.0*10.0-24*24-H0.75普通测试金属旋钮

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Q F N-96-0.35-10.0*10.0-24*24-H0.75普通测试金属旋钮

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QFN12(2X2)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-12-0.5-2.0X2.0-3;3-H0.85

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QFN12(3X3)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-12-0.5-3.0X3.0-3;3-H0.85

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QFN-128-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-128-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金属

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QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金

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QFN-128-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-128-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN20(3X3)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-20-0.5-3.0X3.0MM(5;5)翻盖

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QFN20(4X4)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-20-0.5-4.0X4.0-5;5-H0.85

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QFN-20-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-20-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-20-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-20-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN24(4X4)-0.5-CP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-24-0.5-4.0X4.0MM(6;6)+G 翻盖

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QFN24(4X4)-0.5-TP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-24-0.5-4.0X4.0MM(6;6)+G 下压

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QFN28(5X5)-0.5-CP01GT 四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-28-0.5-5.0X5.0MM(7;7)+G翻盖

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QFN28(5X5)-0.5-TP01GT 四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-28-0.5-5.0X5.0MM(7;7)+G翻盖

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QFN-28-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-28-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-28-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-28-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN32(5X5)-0.5-CP01GT四边出脚通用测试座带板

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QFN-32-0.5-5.0X5.0-8;8

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QFN32(5X5)-0.5-TP01GT四边出脚通用测试座带板

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QFN-32-0.5-5.0X5.0-8;8

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QFN-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN36(6X6)-0.5-CP01GT两边出脚双层通用测试用带PCB

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QFN-36-0.5-6.0X6.0(9;9)+G翻盖

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QFN36(6X6)-0.5-CP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-36-0.5-6.0X6.0MM(9;9)+G

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QFN-36-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-36-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-36-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-36-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN40(5X5)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-40-0.4-5.0X5.0MM(10;10)+G翻盖

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QFN-40-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN48(6X6)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-48-0.4-6.0X6.0MM(12;12)

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QFN-52-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN56(8X8)-0.5-CP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-56-0.5-8.0X8.0MM(14;13)+G翻盖

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QFN56(8X8)-0.5-TP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-56-0.5-8.0X8.0MM(14;13)+G下压

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QFN-56-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-56-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-56-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-56-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN72(10X10)-0.5-CP01G四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-72-0.5-10.0X10.0MM(18;18)+G翻盖

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QFN72(10X10)-0.5-TP01G四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-72-0.5-10.0X10.0MM(18;18)+G下压

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QFP-100-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.5-TP01N两边各两排带板通用测试座

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QFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.0X7.0)

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QFP-100-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-44-0.8-TP01NT带板通用测试用适配器

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QFP-44-0.8-12.0X12.0-10.0X10.00

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QFP-48-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-48-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-48-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.5-CP01N四边出脚通用带PCB测试用

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QFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.0X7.0)

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QFP-48-0.5-TP01N四边出脚通用带PCB测试用

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QFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.0X7.0)

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QFP-48-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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SZJ/南韩POGOPIN

QFP-80-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN弯针夹子

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN弯针夹子

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子

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SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN快速夹具

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SOP-8-1.27-7.62-300MIL测试夹具/8PIN快速夹具

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SOP-8-1.27-7.62-300MIL在线测试夹具/8PIN快速夹具带杜邦线连接器

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SOT23-3-0.95翻盖探针测试座

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SOT-23-3-0.95-1.6X2.9翻盖探针测试座

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SOT23-3-0.95翻盖探针测试座加板适配器

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SPM-24锁紧模块老化测试座

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SZJ/HI-REL/HR

DIP-24-1.78 DIP-24(42)-1.78-29.8X24.0锁紧模块老化测试座

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SSD硬盘测试TSOP-48-0.5/TSOP-48转SSD带板测试卡

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SSD硬盘测试TSOP-48-0.5/TSOP-48转SSD带板测试卡

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SSOP20(28)-0.65-01 双边出脚通用测试用带PCB

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SSOP-16-0.65-6.4X4.4X5.0MM

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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座

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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座

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TSOP-40-0.5-6.0X3.9X9.9测试

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TSOP-40-0.5-6.0X3.9X9.9测试

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UBGA-169-0.5-10.0X13.0-14X14 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-10.0X13.0-14X14 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-6.0X6.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-6.0X6.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-7.0X7.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-7.0X7.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-8.0X8.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-9.0X9.0-16X16 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-9.0X9.0-16X16 EMMC带盒子测试座

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC153转20测试座下压式

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC153转20测试座下压式

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC169转20测试座下压式

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC169转20测试座下压式

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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1.25-D0.45/0.4 测试旋钮

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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1

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XC9828A-SOP-18+3-0.45-5.0X5.0-H2.0 旋钮测试

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XC9828A-SOP-18+3-0.45-5.0X5.0-H2.0 旋钮测试

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ZMBQ-18S05MPS15 A H -DIP-6-9.9 老化测试

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ZMCQ-18S05MPS05 AH -DIP-6-25.4 老化测试

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ZMCQ-18S05MPS05 AH -DIP-6-25.4 老化测试

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华为C8812EMMC手机IC测试夹具

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BGA-153-0.5 BGA-169-0.5华为C8812EMMC手机IC测试夹具

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华为HT300电源芯片测试治具

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华为SD5871芯片测试治具铝合旋钮

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BGA-580-

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平板电脑DDR3一拖二芯片测试治具

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BGA-96-0.8平板电脑DDR3一拖二芯片测试治具

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平板电脑EMMC测试夹具

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BGA-153-0.5 BGA-169-平板电脑EMMC测试夹具

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平板电脑一拖四测试治具

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平板电脑一拖一DDR颗粒IC测试夹具

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苹果4SWIFI芯片测试治具

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苹果4S硬盘芯片测试治具

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LGA-52-苹果4S硬盘芯片测试治具

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苹果4通信基带+字库测试夹具

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苹果5二合一芯片测试治具

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苹果5三合一IC测试夹具

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苹果5硬盘IC测试夹具

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苹果MINI平板电脑电源IC测试夹具

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BGA-292苹果MINI平板电脑电源IC测试夹具

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苹果大小LGA硬盘翻盖探针带排线测试座

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萍果LGA60测试座焊接型免飞线带板

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三星EMCP字库手机测试治具

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EMCP-BGA-162-0.5-186三星EMMC9300字库IC测试夹具

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BMS 测试板（XL8812）

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CHIPWAYS

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FTC测试治具

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测试探针

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ZZZ

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